儀器設備

傅立葉轉換紅外線光譜儀

(Fourier transform infrared spectrometer, Bruker IFS 66v/S )

其可量測光譜範圍由遠紅外光區 (far infrared) 至中紅外光區 (middle infrared) ，頻率從 30 至 5000 cm^-1，對應光子的能量約為 3.7 meV 至 620 meV 。

紅外光偵測器

(Silicon bolometer/Si:B dual detector system, Infrared Laboratories)

近紅外光 / 可見光 / 紫外光顯微光柵式分光光譜儀 (NIR/Vis/UV micro-spot grating monochrometer, Perkin Elmer Lambda 900)

其量測的光譜範圍從近紅外光區 (near infrared) 、可見光區 (visible) 至紫外光區 (ultraviolet) ，頻率由 3900 至 52000 cm^-1，對應光子能量約為 0.48 eV 至 6.5 eV 。光譜儀的光路與光學顯微鏡結合，可以觀察實驗樣品微區 (10 × 10 μm² ) 的顯微光譜。

顯微連續波長橢圓偏光儀 (Micro-spot spectroscopic ellipsometer, J. A. Woollam M-2000U)

其量測的光譜範圍從 10000 至 40800 cm^-1 ，對應光子能量約為 1.24 eV 至 5.06 eV 。藉由聚焦光學元件的設置，可以觀察實驗樣品微區 (100 × 100 μm² ) 的顯微光譜。

顯微拉曼散射光譜儀 (Micro-Raman spectrometer, Bruker SENTERRA)

其量測的拉曼位移範圍從 80 至 4000 cm^-1 ，藉由共軛聚焦顯微鏡的設置，可以觀察實驗樣品微區 (1.0 × 1.0 μm² ) 的顯微拉曼散射光譜。

氪離子雷射 (Kr⁺ CW laser, Coherent Innova 300)

液態氦降溫冷卻系統 (LHe open cycle cryostat, Advanced Research Systems)

使用液態氦冷卻實驗樣品，量測的光譜範圍溫度從 10 至 400 K 。

高溫加熱系統 (Microscope vacuum hot stage system, HCS601V, INSTEC)

實驗樣品在真空腔體中，其量測的光譜範圍溫度至 900 K 。

分子渦輪抽氣幫浦 (Turbomolecular drag pump, PFEIFFER Vacuum TSU 071)

偏光顯微鏡 (Polarized optical microscopy , Olympus BX51M)

研磨拋光機 (Polishing machine, PRESI P220 U)

桌上型排氣煙櫃 (Fume hood)

精密電子天平 (Precise balance, Precisa XS 225 A)

國際研究合作，美國國家高磁場實驗室

(International cooperation, National High Magnetic Field Laboratory, Tallahassee, Florida, U. S.A. http://www.magnet.fsu.edu)

國際研究合作，日本東北大學強磁場實驗室 (International cooperation, High Field Laboratory for Superconducting Materials, Institute for Materials Research, Tohoku University, Sendai, Japan, http://www.hflsm.imr.tohoku.ac.jp)